薄膜測厚儀
薄膜測厚儀適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。薄膜測厚儀符合GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374等多項標準。
薄膜測厚儀（CHY-C2）具有以下特點：
接觸式測量；
測頭自動升降；
手動、自動雙重測量模式；
顯示*大值、*小值、平均值和統(tǒng)計偏差；
標準接觸面積、測量壓力（非標可選）；
標準量塊標定；
薄膜測厚儀技術指標：
測量范圍：0～2mm（常規(guī)）
0～6mm；12mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測量速度：10次/min（可調）
測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制
Labthink蘭光擁有先進的檢測技術與專業(yè)實驗室，致力于為全球范圍醫(yī)藥、食品、日化、包裝、印刷、膠粘劑、汽車、石化、環(huán)境、生物、新能源、建筑、航空及電子領域客戶提供*優(yōu)秀、*全面的品質控制解決方案。了解詳細信息，敬請致電0531-85068566，本信息由濟南蘭光提供。 |
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