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廣東宏展科技有限公司
| 聯(lián)系人：薛澤明
先生 (經(jīng)理) |
| 電 話：0769-83730866 |
手 機(jī)：13662798899  |
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| 廣東高低溫低氣壓試驗箱 /深圳高低溫低氣壓試驗箱 |
*溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機(jī)均配置過流（過熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿足客戶的多種需要；
采用國際流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用國際知名品牌產(chǎn)品，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；
*設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GJB 150.2A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第2部分：低氣壓（高度）試驗
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.6-1986 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 溫度-高度試驗
*安裝濕度模塊后，還可滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：
GJB 150.19-1986 溫度-濕度-高度試驗
GJB 150.24A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第24部分：溫度-濕度-振動-高度試驗
GB/T 2423.27-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Z/AMD 低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗 |
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