磁吸手機(jī)支架驗(yàn)貨要求與測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
一、驗(yàn)貨要求(InspectionCriteria)
驗(yàn)貨通常在生產(chǎn)線批量完成后，隨機(jī)抽取一定數(shù)量（如根據(jù)ANSI/ASQZ1.4AQL標(biāo)準(zhǔn)）進(jìn)行外觀、尺寸、功能和包裝檢查。
1.外觀檢驗(yàn)(VisualInspection)
表面處理：涂層均勻，無(wú)劃痕、氣泡、脫落、污漬、氧化或銹跡。
結(jié)構(gòu)：各部件組裝到位，無(wú)松動(dòng)、異響、歪斜或大的縫隙。
材質(zhì)：與確認(rèn)的樣品一致（如ABS塑料、硅膠、金屬等），無(wú)毛刺、飛邊或縮水等注塑缺陷。
磁吸圈/磁鐵：平整嵌入，表面覆蓋的材質(zhì)（如硅膠、PU皮革）無(wú)破損，印刷的對(duì)準(zhǔn)圈清晰無(wú)誤。
標(biāo)識(shí)：任何品牌Logo、認(rèn)證標(biāo)志（如MFi,MagSafe）應(yīng)清晰、正確、無(wú)磨損。
2.尺寸與重量檢驗(yàn)(Dimensional&WeightInspection)
關(guān)鍵尺寸：使用卡尺等工具測(cè)量支架的整體尺寸、球頭直徑、夾持范圍等，需與工程圖紙規(guī)格完全一致。
重量：整體重量需在標(biāo)稱(chēng)范圍內(nèi)，特別是車(chē)載出風(fēng)口支架，過(guò)輕可能影響穩(wěn)定性。
跌落測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)(DropTestStandard)
跌落測(cè)試是模擬產(chǎn)品在運(yùn)輸、使用中意外跌落的情景，是可靠性測(cè)試的核心。
1.測(cè)試樣本：通常從大貨中隨機(jī)抽取至少35個(gè)未開(kāi)封的完整包裝產(chǎn)品。
2.測(cè)試前檢查：確認(rèn)樣本功能、外觀完好。
3.測(cè)試環(huán)境：在堅(jiān)硬的水泥或石板地面上進(jìn)行。
4.測(cè)試高度：（可根據(jù)產(chǎn)品定位調(diào)整，以下為常見(jiàn)標(biāo)準(zhǔn)）
消費(fèi)類(lèi)電子產(chǎn)品常見(jiàn)標(biāo)準(zhǔn)：1.0米1.2米。這是模擬從桌面或手中跌落的高度。
更高要求（如軍規(guī)或戶外用品）：可能要求1.5米或更高。
5.跌落姿態(tài)：每個(gè)樣本需進(jìn)行多次跌落，每次以不同的著地姿態(tài)。通常包括：
1.角跌落：產(chǎn)品*脆弱的角落先著地。
2.棱跌落：產(chǎn)品的邊棱先著地。
3.面跌落：產(chǎn)品的*大面先著地。
6.測(cè)試次數(shù)：每個(gè)樣本通常需完成至少6次跌落（如：三個(gè)互相垂直的軸，每個(gè)軸的正反面各一次，共6次）。
7.測(cè)試后檢驗(yàn)：
結(jié)構(gòu)完整性：支架主體無(wú)碎裂、斷裂、不可恢復(fù)的變形。 |
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