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無(wú)錫信拓檢測(cè)技術(shù)服務(wù)有限公司
| 聯(lián)系人:謝寧
先生 (經(jīng)理) |
| 電 話:0510-88300119 |
| 手 機(jī):18021198259 |
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| 常州金屬鍍層檢測(cè) |
| 我們專業(yè)從事于產(chǎn)品國(guó)際國(guó)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)法規(guī)測(cè)試,貿(mào)易政策研究,檢驗(yàn)試驗(yàn)中心援助的技術(shù)型服務(wù)公司。金屬鍍層厚度采取的測(cè)試方法有:1、光學(xué)顯微鏡法2、庫(kù)侖法3、X射線熒光法(XRF)其他的金屬鍍層測(cè)試有1、鍍鋅、鍍鋁鋅量測(cè)試2、鍍鋁量測(cè)試3、磷化物轉(zhuǎn)化膜重量測(cè)試4、鋁和鋁合金陽(yáng)極氧化膜厚度(重量法)5、鋁和鋁合金陽(yáng)極氧化膜封孔質(zhì)量6、剪切試驗(yàn)7、杯突試驗(yàn)鍍層厚度的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)1、 光學(xué)顯微鏡法包括:1.GB/T 6462-20052.ASTM B487-073.ISO 1463-20034.EN ISO 1463-20045.JIS H8501-19992. 庫(kù)侖法檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)包括:1.ASTM B504-072.GB/T 4955-20053.ISO 2177-20034.DIN EN ISO2177-20045.JIS H8501-19993. X射線熒光法(XRF)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):1.GB/T 16921-052.ISO 3497-20003.DIN EN ISO 3497-20014.ASTM B568:19985.ASTM A754-20066.JIS H8501-1999 |
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