產(chǎn)品介紹
同步輻射吸收譜（XAFS）可以分為三個(gè)部分，邊前區(qū)（Pre-edge）、近邊區(qū)(XANES)和擴(kuò)展邊（EXAFS），XANES可以得到吸收原子的電子結(jié)構(gòu)，包括價(jià)態(tài)，對(duì)稱性，軌道；EXAFS可以得到吸收原子周圍配位信息，包括配位原子種類，鍵長(zhǎng)，配位數(shù)，無(wú)序度等信息，是研究原子配位環(huán)境的重要分析手段！
測(cè)試注意事項(xiàng)
1.同步輻射高能機(jī)時(shí)可測(cè)K邊超過(guò)20keV的元素，如Pd、Ag、Sb、Cs、Te等元素，請(qǐng)和相關(guān)負(fù)責(zé)的老師確認(rèn)具體測(cè)試時(shí)間后再下單測(cè)試。
2.同步輻射吸收譜（XAFS）硬X射線可測(cè)元素激發(fā)能為4k-20keV，具體為Ca-Mo的K邊，或者能量位于該范圍內(nèi)的元素L邊，如Pt的L3邊。
3.同步輻射吸收譜（XAFS）內(nèi)，如C、O的K邊。
4.同步輻射XRD常用于結(jié)構(gòu)分析，物相鑒定，與常規(guī)X光相比，同步輻射光波長(zhǎng)在大范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，且準(zhǔn)直性好，研究的尺度范圍和分辨均優(yōu)于常規(guī)X光。
5.同步輻射SAXS可探測(cè)樣品內(nèi)電子密度起伏，研究樣品內(nèi)缺陷和顆粒的尺寸、形狀及其分布密度。
6.同步輻射GISAXS/GIWAXS常用于分析薄膜、電池等材料的分子取向和晶體取向，是研究精細(xì)結(jié)構(gòu)和分子堆積的重要方法。
同步輻射X射線優(yōu)點(diǎn)
1. 強(qiáng)度高，亮度大
由于多次疊加效應(yīng)以及可控的電子束流密度，這種大型設(shè)備產(chǎn)生的X射線強(qiáng)度比醫(yī)院或者工廠所用X光機(jī)要強(qiáng)上億倍。
2. 光子能量范圍寬
通過(guò)調(diào)節(jié)偏轉(zhuǎn)磁鐵之間的相對(duì)位置，X射線的能量可以從遠(yuǎn)紅外區(qū)連續(xù)變化至硬X射線區(qū)域，能量跨度4個(gè)數(shù)量級(jí)。作為參考，咱們?nèi)搜劭煞直娴墓庾V范圍連一個(gè)數(shù)量級(jí)都不到。 |
免責(zé)聲明：以上所展示的信息由會(huì)員自行提供，內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布會(huì)員負(fù)責(zé)，www.qy6.com對(duì)此不承擔(dān)任何責(zé)任。如有侵犯您的權(quán)益，請(qǐng)來(lái)信通知?jiǎng)h除。