對(duì)不同絕緣子的自然積污量也積累了一定的運(yùn)行經(jīng)驗(yàn)。為此,采用相當(dāng)于在相同的自然條件下,在相同的積污內(nèi)被試絕緣子和基準(zhǔn)絕緣子的積污鹽密值的人工污閃電壓梯度相比較的方法來(lái)求取Ke值。當(dāng)采用爬電比距法時(shí),其中的絕緣子爬電距離有效系數(shù)Ke,主要由各種絕緣子幾何爬電距離在試驗(yàn)和運(yùn)行中所對(duì)應(yīng)的污耐壓來(lái)確定;并以XP-XP-160型絕緣子為基準(zhǔn)。
同時(shí)注意對(duì)焦,對(duì)于過(guò)于模糊地紅外照片,應(yīng)予以放棄。應(yīng)將絕緣子芯棒熱點(diǎn)與芯棒其他較遠(yuǎn)比較確定溫升,如下圖角度較好:d、測(cè)試時(shí)記錄、環(huán)境濕度、溫度,并給出紅外照片,以便后續(xù)分析。e、發(fā)現(xiàn)紅外照片測(cè)試參數(shù)設(shè)置不對(duì)時(shí),一般紅外儀器的軟件都有測(cè)試圖像的反演功能,利用軟件對(duì)測(cè)試參數(shù)進(jìn)行修改、重新計(jì)算溫升。
差異不大。存在電蝕通道絕緣子的紅外特征:電蝕通道的高壓端、與完好芯棒的分界區(qū)域上是溫升明顯區(qū)域;與無(wú)電蝕通道絕緣子相比溫升幅值可能不高(僅1.9°);絕緣子本身不同的溫差較為明顯;(實(shí)際上B絕緣子也存在內(nèi)部缺陷,粘接不良)1.2測(cè)試判斷現(xiàn)場(chǎng)在運(yùn)復(fù)合絕緣子的紅外診斷判斷準(zhǔn)則為標(biāo)準(zhǔn)《DL/T664帶電設(shè)備紅外診斷應(yīng)用規(guī)范》的附表I.2。
可忽略不計(jì)。3)絕緣子周?chē)妶?chǎng)改變了顆粒的運(yùn)動(dòng)方向及速度,使其向絕緣子上、下表面偏轉(zhuǎn),導(dǎo)致積污加。浑妶(chǎng)對(duì)粒徑1~20μm污穢顆粒積污的影響為明顯,但是隨著風(fēng)速、粒徑的增大。電場(chǎng)影響減弱。當(dāng)今社會(huì),隨著直流輸電線路和特高壓輸變電工程建設(shè)的需求及電網(wǎng)受外界因素干擾帶來(lái)的大面積閃絡(luò)等。 |