SPECTRO XEPOS多功能偏振型X射線熒光光譜儀SPECTRO XEPOS內(nèi)部采用高性能部件,可獲得*佳的靈敏度和準(zhǔn)確性。采用偏振次級(jí)靶以確保*佳激發(fā),12位樣品自動(dòng)交換器,預(yù)先安裝好的應(yīng)用軟件包和智能軟件模塊,德國(guó)斯派克分析儀器公司開(kāi)發(fā)出了一種極其成功的技術(shù)，把偏振X射線應(yīng)用于熒光分析。正如現(xiàn)今在拍攝高質(zhì)量圖片時(shí)偏振濾光片是不可替代的工具一樣，這種先進(jìn)的分析技術(shù)已成為實(shí)驗(yàn)室測(cè)定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析儀器公司不斷發(fā)展這一技術(shù)，并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺(tái)式偏振X射線熒光光譜儀。技術(shù)參數(shù)：
激發(fā)- Mo 靶X光管zui大功率：30W,zui大電壓：48kV- 測(cè)量點(diǎn)尺寸Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm樣品室- 可顯示樣品的攝像系統(tǒng)(可調(diào)焦)- 手動(dòng)調(diào)節(jié)樣品臺(tái)，樣品定位簡(jiǎn)便- 馬達(dá)驅(qū)動(dòng)精確移動(dòng)的XYZ樣品臺(tái)，zui大行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3’’(寬x深x高)，zui大樣品重量：3kg/6.6 lbs計(jì)算機(jī)- 外置式計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，Windows操作系統(tǒng)，- 鍵盤(pán)，鼠標(biāo)，顯示器，打印機(jī)- 菜單式軟件，光譜儀參數(shù)調(diào)整和數(shù)據(jù)評(píng)估及計(jì)算，元素成分及分布顯示檢測(cè)器- Peltier 冷卻的Si 漂移檢測(cè)器:Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2- 以Mn Kα線，在測(cè)量計(jì)數(shù)率為10，000脈沖計(jì)數(shù)時(shí)， 能量分辨率：FWHM< 160 eV- 微處理器控制的檢測(cè)器和讀出電路- 脈沖計(jì)數(shù)率可達(dá)250，000 cps光譜儀數(shù)據(jù)- 電壓：95-120V/200-240V,50/60 Hz,- 光譜儀能耗：200W- 儀器尺寸 寬x 深 x 高，單位mm580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1”- 底座尺寸寬x 深:500x550 mm/19.7x21.6 ”- 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根據(jù)不同配置分析- 用于合金元素分析的基本參數(shù)程序FP +- 塑料及復(fù)合材料的RoHS指令檢測(cè)環(huán)境條件- 周?chē)h(huán)境溫度：5-30°C （41-85°F）在20-25°C （68-77°F）下，可達(dá)到標(biāo)定儀器性能- 在 25°C (77°F)下相對(duì)濕度: 10-80 %，無(wú)冷凝，無(wú)蒸氣腐蝕，防塵.
SPECTRO XEPOS內(nèi)部采用高性能部件，可獲得*佳的靈敏度和準(zhǔn)確性。采用偏振次級(jí)靶以確保*佳激發(fā)，12位樣品自動(dòng)交換器，預(yù)先安裝好的應(yīng)用軟件包和智能軟件模塊，使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。
SPECTRO XEPOS配有預(yù)先安裝好的應(yīng)用包，包括：在工廠預(yù)先校正好的各種硬件和分析方法。適合分析：土壤、污泥、油中添加劑、水泥、爐渣、耐火材料、電子元器件RoHS檢測(cè)等。
XEPOS型X射線熒光光譜儀可廣泛應(yīng)用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、（汞）等元素分析，檢出下限低，靈敏度高、穩(wěn)定性好，可應(yīng)對(duì)歐洲WEEE、RoHS指令。 |
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